PROTEQ普泰系列测试仪  BRADS 4040
种种问题为您一一解决
不论您是测试维修大型电脑、工业控制系统、大型仪器、或各种不同的电子线路板，只要有一部“普泰”电路维修测试仪，便能在数秒种内判断元件的好坏。“普泰”具备自动分析线路结构功能，无需线路图，操作容易，只需配合一部微型计算机便能工作，最适合大型数控设备及进口设备维修部门使用。为了使用户能以最快的速度熟悉本系统，最新版的软件为中文介面，使操作者能在数小时内掌握。
主要功能如下：
1、 在线功能测试（IN-CIRCUIT FUNCTIONAL TEST）
这种测试模式只应用在数字IC上，方法是通过测试用库指示“普泰”机器推动IC的输入脚，继而检查输出脚电平是否正常。使用时只需把测试夹夹住被测器件，输入其型号，开启电源后便可进行测试。如测试不通过，显示器上便会出现器件管脚的逻辑电平，用户可掌握这些资料去判断器件的好坏。现有的测试库包括：TTL、CMOS、DRAM、SRAM、LSI等。
2、 VI特性测试（VI TRACE TEST）
这种测试方法在无电源情况下，由“普泰”输出了一个同期的交变电压信号到被测管脚（或某一被测点上），然后测量该点的对应的电流值，然后以曲线的形式绘制在屏幕上（VI曲线），根据所显示的曲线的形状，测试人员即可分析出故障点。测试仪也可以先学习一块好的线路板的VI特性，以一个文件的形式存储在硬盘或软盘上，然后即可利用此存储的数据和同型号的故障板进行比较，从而具体的确定某一点的故障所在。此测试不受被测器件型号及封装形式的限制，应用范围较广。
3、 LSI测试（LSI TEST）
由于LSI器件结构复杂，功能按用户的设计而不同，所以不可能有固定的测试程序。“普泰”提供的LSI测试，是先将好的线路板上的LSI器件学习分析（测试仪自动进行），并进行存储，然后和有故障的线路板的LSI器件进行对比，从而确定是否存在故障。
4、 连线测试（LINK TEST）
“普泰”测试仪可自动分析器件之间的连接关系，并自动测试电源线、地线、开路、短路等状态，使用方法与LSI测试相似，需要先学习一块好的线路板，然后将数据存盘，以供下一次使用。用此方法生成的连接文件，还可用于生成被测器件之间的连线图。
5、 BOTL与LSI测试语言
“普泰”提供以下两种语言，供用户自行开发器件测试程序时使用。
6、 LSI器件测试程序自动生成
该项功能可帮助用户自动生成40脚以下的ROM、RAM、PLD器件的测试程序，用户只需输入该器件的电源脚、地脚、输入脚、输出脚等资料，测试便可自动生成该器件的测试程序。

BRADS4040的技术指标如下：
      测试范围：TTL、CMOS、LSI、VLSI、PAL、GAL、PLD、
                 ROM、RAM、 DRIVER、I/O、CPU、ADC、DAC、
                 模拟器件等。
      双向逻辑测试/驱动通道：40
   逻辑驱动电平：LOW：3.5V
   逻辑驱动电流：（SINK/SOURCE）>280MA
   逻辑测试阈值： TTL紧   TTL松   CMOS紧   CMOS松
         低电平    0-0.8V   0-1.3V    0-1.5V      0-2.4V
         高电平    2-5V     1.5-5V    3.5-5V     2.5-5V
   VI自动测试通：40
   VI扫描电压：-8V-+8V；-19V-+19V；-32V-+32V
   VI扫描频率：48Hz，96Hz，144Hz，390Hz，780Hz，1170Hz
   VI手持探针：手持探针VI测量（VI测试、R和V测量等）
                装置，可把本仪器作为万用表使用。
       离线IC测试板：40P双列IC锁紧插座，电源短路保护。  
   直流电源输出：5VDC、5A（向被测电路板供电）
   交流电源输入：220VAC、200W